ZVA80 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

詳細(xì)介紹

R&S®ZVA 系列產(chǎn)品屬于，zui多可支持 4 個(gè)信號(hào)源，可以精準(zhǔn)地測(cè)量高達(dá) 110 GHz 的信號(hào)。 需要對(duì)高性能、多功能型有源或無(wú)源組件和模塊進(jìn)行要求*的測(cè)量時(shí)，該系列產(chǎn)品是理想的選擇。 其高頻型產(chǎn)品的頻率范圍zui大可擴(kuò)展至 500 GHz。
出色的性能(*)

R&S®ZVA 已經(jīng)成為解決絕大多數(shù)挑戰(zhàn)性應(yīng)用的里程碑式產(chǎn)品：
*臺(tái)頻率可高達(dá) 67 GHz，并且含兩路內(nèi)部源的，可以快速地對(duì)放大器和混頻器進(jìn)行測(cè)量
• 線(xiàn)性和非線(xiàn)性放大器和混頻器測(cè)量：
° 對(duì)混頻器變頻損耗的矢量誤差校正幅度和相位進(jìn)行測(cè)量
° 對(duì)帶內(nèi)置本振的群延時(shí)和相對(duì)相位進(jìn)行測(cè)量
° 對(duì)混頻器的變頻損耗和互調(diào)進(jìn)行測(cè)量
° 對(duì)放大器進(jìn)行互調(diào)和 Hot S 參數(shù)進(jìn)行測(cè)量
• 脈沖測(cè)量：
° *臺(tái)中頻帶寬高達(dá) 30 MHz 的，用于對(duì)工作頻率高達(dá) 67 GHz的放大器和混頻器進(jìn)行脈沖測(cè)量（詳細(xì)內(nèi)容請(qǐng)參見(jiàn)“應(yīng)用”和“選件”）
° 對(duì)脈寬小于 50 ns 的脈沖信號(hào)進(jìn)行分辨率高達(dá) 12.5 ns 的脈沖包絡(luò)測(cè)量
° 頻率和功率掃描式的脈內(nèi)測(cè)量
• *臺(tái)工作頻率高達(dá) 50 GHz 、可以產(chǎn)生相位相干信號(hào)的
° 采用真差分模擬，可以快速、簡(jiǎn)便地測(cè)試平衡待測(cè)設(shè)備
° 輸入到DUT 參考面上的信號(hào)的幅值和相位關(guān)系支持用戶(hù)自定義
• 校準(zhǔn)
° 多功能校準(zhǔn)技術(shù)：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA 和 UOSM 
° 方便、快捷的矢量混頻器校準(zhǔn)功能和帶有“未知通路”校準(zhǔn) UOSM的“適配器去除功能”
特性：
1.*化的測(cè)試和配置時(shí)間，提高了測(cè)試速度 
大中頻帶寬和寬動(dòng)態(tài)范圍，使測(cè)量更快、更加精確
R&S®ZVA 創(chuàng)立了測(cè)量速度的新*：它將高達(dá) 1 MHz的中頻帶寬（可選 5/10 MHz）和高速合成器結(jié)合在一起，縮短了測(cè)量時(shí)間，從而提高了手動(dòng)調(diào)整和自動(dòng)化生產(chǎn)過(guò)程的效率。 在CW 模式下，每個(gè)測(cè)試點(diǎn)的測(cè)量時(shí)間不到 3.5μs；頻率掃描模式下200 多個(gè)測(cè)試點(diǎn)不到 5ms 即可完成。
由于該分析儀的動(dòng)態(tài)范圍寬、相位噪聲低，因而這種速度優(yōu)勢(shì)絲毫不會(huì)對(duì)測(cè)量準(zhǔn)確性產(chǎn)生影響。 借助 R&S®ZVA 上 100 多個(gè)獨(dú)立信道和配置的跡線(xiàn)，可以在zui短時(shí)間內(nèi)完成復(fù)雜組件全面的功能測(cè)試。 不再需要耗時(shí)地加載新的儀表設(shè)置。

寬動(dòng)態(tài)范圍
zui小化的校準(zhǔn)工作量和校準(zhǔn)時(shí)間
R&S®ZV-Z5x 自動(dòng)校準(zhǔn)單元
采用自動(dòng)校準(zhǔn)單元，將校準(zhǔn)時(shí)間降低至zui?。?/span>
• 自動(dòng)檢測(cè)已經(jīng)連接的設(shè)備和端口：無(wú)需配置。
• 工作溫度范圍極寬，預(yù)熱時(shí)間幾乎為零。
手動(dòng)校準(zhǔn)
• 羅德與施瓦茨網(wǎng)絡(luò)分析儀支持?jǐn)?shù)量zui多的校準(zhǔn)技術(shù)。 測(cè)試裝置的夾具、晶片、PCB、波導(dǎo)或者導(dǎo)線(xiàn)端頭可能需要校準(zhǔn)。 選擇可以支持適用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)技術(shù)。
• 系統(tǒng)設(shè)計(jì)有結(jié)構(gòu)清晰的對(duì)話(huà)框，顯示所有的校準(zhǔn)步驟，確保校準(zhǔn)工作正確無(wú)誤。
• 校準(zhǔn)期間，錯(cuò)誤的連接僅需重做相應(yīng)的校準(zhǔn)步驟，即，無(wú)需從頭開(kāi)始*的重新校準(zhǔn)。
• 對(duì)于多端口重新校準(zhǔn)，更加省心省力：更換測(cè)試儀組件（例如，某個(gè)故障電纜）之后，僅需重新校準(zhǔn)相應(yīng)的通路。
• 避免重新校準(zhǔn)：對(duì)于后續(xù)測(cè)量信道和設(shè)置，可以使用已有的校準(zhǔn)結(jié)果。

并行測(cè)量 — 測(cè)量速度比原來(lái)快四倍
R&S®ZVA 的發(fā)生器設(shè)計(jì)，使得每個(gè)測(cè)試端口都可以同時(shí)作為信號(hào)源和接收機(jī)使用。 因此，可以對(duì)測(cè)試端口進(jìn)行分組。 在各個(gè)測(cè)試端口組上進(jìn)行的測(cè)量任務(wù)可以彼此實(shí)現(xiàn)同步。 因而，可以并行地測(cè)量多個(gè) DUT 或者一個(gè) DUT 的多個(gè)通路； 測(cè)量時(shí)間僅相當(dāng)于測(cè)量一個(gè)設(shè)備所需要的時(shí)間。 因此，同時(shí)測(cè)量?jī)蓚€(gè)兩端口DUT時(shí)，速度將提高一倍；同時(shí)測(cè)量四個(gè)單端口DUT時(shí)，速度將是原先的四倍。

并行測(cè)量
儀器各種設(shè)置之間的快速切換
在同時(shí)分析多個(gè)DUT時(shí)，你再也無(wú)需從硬盤(pán)逐個(gè)載入所需的儀器設(shè)置。一旦被調(diào)用，設(shè)置將始終保存于RAM中，其中包括計(jì)算獲得的數(shù)據(jù)，例如通過(guò)插值獲得的校準(zhǔn)值。 因此，各種設(shè)置之間的切換幾乎不會(huì)產(chǎn)生延誤，例如：遠(yuǎn)程控制模式下不到 10 ms 時(shí)間。 而對(duì)于傳統(tǒng)儀器來(lái)說(shuō)，設(shè)置的調(diào)用則需要花費(fèi)長(zhǎng)達(dá)一秒鐘的時(shí)間。 每個(gè)設(shè)置都用一個(gè)單獨(dú)的測(cè)量窗口表示。 需要在不同窗口之間切換時(shí)，只需使用鼠標(biāo)或按動(dòng)按鍵即可。 此外，這種設(shè)計(jì)還可以方便地處理并清晰地顯示大量的測(cè)量結(jié)果和跡線(xiàn)。

儀器各種設(shè)置之間的切換
在掃描的同時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸
由于跡線(xiàn)數(shù)據(jù)可在捕獲測(cè)量數(shù)據(jù)的同時(shí)通過(guò)IEC/IEEE總線(xiàn)或LAN進(jìn)行傳輸，因而 R&S®ZVA 上的數(shù)據(jù)傳輸時(shí)間對(duì)于重復(fù)測(cè)量序列來(lái)說(shuō)微不足道。
信道位和用戶(hù)端口——高速控制外部設(shè)備
為了進(jìn)一步縮短自動(dòng)測(cè)試周期，儀器后面板上提供了一個(gè)用于觸發(fā)I/O信號(hào)的特殊端口， 這些 I/O 信號(hào)可通過(guò) R&S®ZVA 的內(nèi)部測(cè)量序列直接同步測(cè)量裝置的外部設(shè)備或 DUT 設(shè)置。諸如“觸發(fā)就緒”等儀表狀態(tài)，可以用作直接控制外部設(shè)備的電信號(hào)。由于不需要使用遠(yuǎn)程控制序列，因而節(jié)省了執(zhí)行時(shí)間。
利用分段掃描實(shí)現(xiàn)*測(cè)量速度、準(zhǔn)確性和動(dòng)態(tài)范圍
分段掃描功能允許將一次掃描分割成數(shù)量不受限制的許多段，每一段的測(cè)試點(diǎn)間距、測(cè)量帶寬和信號(hào)發(fā)生器功率等各分段掃描參數(shù)可單獨(dú)進(jìn)行定義，從而實(shí)現(xiàn)與DUT特性之間的*匹配。 以此實(shí)現(xiàn)測(cè)量速度和準(zhǔn)確度的進(jìn)一步優(yōu)化。
2.直觀的用戶(hù)界面和顯示結(jié)構(gòu)
為了*地滿(mǎn)足用戶(hù)需求，羅德與施瓦茨公司的全部網(wǎng)絡(luò)分析儀的所有功能都可以采用前面板按鍵、鼠標(biāo)和鍵盤(pán)，或者同時(shí)采用兩者進(jìn)行控制。對(duì)話(huà)框直觀地顯示儀表設(shè)置和可輸入的參數(shù)。僅需少數(shù)幾個(gè)菜單，就可以完成基本的設(shè)置。 系統(tǒng)設(shè)計(jì)了其它表格和對(duì)話(huà)框，可以用于更加詳盡的高級(jí)設(shè)置。 此外，鼠標(biāo)點(diǎn)擊顯示界面中的參數(shù)區(qū)域時(shí)，會(huì)彈出菜單，從中可以選擇目標(biāo)參數(shù) – 采用該功能，可以極其方便、快速地操作 R&S®ZVA。

虛擬阻抗匹配的參數(shù)化配置網(wǎng)絡(luò)

（重新）配置跡線(xiàn)、信道、標(biāo)度和顯示區(qū)域等

配置時(shí)域測(cè)量（TDR）功能
羅德與施瓦茨公司的所有網(wǎng)絡(luò)分析儀的主要目的是實(shí)現(xiàn)配置的方便與靈活性以及海量測(cè)量數(shù)據(jù)（即，跡線(xiàn)和測(cè)量信道）的處理能力。 跡線(xiàn)、信道、顯示和設(shè)置等的數(shù)量?jī)H受 PC 內(nèi)存的限制（例如，可支持高達(dá) 100 個(gè)跡線(xiàn)，且每個(gè)跡線(xiàn)zui多可支持 401 個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)）。 即使是不同信道的跡線(xiàn)，也可以組合在一個(gè)區(qū)內(nèi)，據(jù)此，可以方便地比較使用了不同參數(shù)的測(cè)量結(jié)果。 完成設(shè)置之后，所有跡線(xiàn)均可以重新布局、移至不同的區(qū)域，或者分配給不同的信道；更改設(shè)置時(shí)，無(wú)需一切從頭開(kāi)始。

靈活的信道和跡線(xiàn)布局
3.式的校準(zhǔn)技術(shù)
多用途校準(zhǔn)技術(shù)，可滿(mǎn)足所有領(lǐng)域的應(yīng)用
R&S®ZVA 不僅提供傳統(tǒng)的TOSM校準(zhǔn)方法（直通、開(kāi)路、短路、匹配），而且還提供其他多種校準(zhǔn)技術(shù)。 由于 R&S®ZVA 的每個(gè)測(cè)試端口都配備了一個(gè)單獨(dú)的參考接收機(jī)，因而可以使用良好的 7-term 校準(zhǔn)技術(shù)，其中包括 TRL/LRL（直通、反射、傳輸線(xiàn)/傳輸線(xiàn)、反射、傳輸線(xiàn)）、TOM（直通、開(kāi)路、匹配）、TNA（直通、網(wǎng)絡(luò)、衰減器）和 TRM（直通、反射、匹配）。這些校準(zhǔn)技術(shù)適合測(cè)試夾具或晶片的校準(zhǔn)。 由于校準(zhǔn)直接在 DUT 參考面上進(jìn)行，因而*消除了測(cè)試夾具產(chǎn)生的影響。
UOSM 校準(zhǔn)技術(shù)極其類(lèi)似于 TOSM 技術(shù)。但是，前者允許使用未知通路（“U”）作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，即，無(wú)需知道某個(gè)通路的參數(shù)（例如，長(zhǎng)度或衰減）。 此外，支持各種類(lèi)型連接器隨意組合的適配器也可用作通路。因此，極大地方便了帶有不同類(lèi)型連接器的 DUT 的校準(zhǔn)任務(wù)。 
使用靈活的校準(zhǔn)套件
任何一種網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)量精度均極大地取決于例如長(zhǎng)度、容量等所有電氣和機(jī)械參數(shù)。這些參數(shù)決定了幅值和相位響應(yīng)，因而，也決定了校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)中的 S 參數(shù)。 當(dāng)然，必須盡可能準(zhǔn)確地獲得這些參數(shù)。 為了定義校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，必要擁有考慮了可能出現(xiàn)的全部非理想條件的等效電路。 羅德與施瓦茨的所有網(wǎng)絡(luò)分析儀均配設(shè)有清晰的等效電路圖和建模功能，*這一需求，可以進(jìn)行詳盡的參數(shù)設(shè)置。 

 ZVA8      帶 4 個(gè)內(nèi)部信號(hào)源，頻率高達(dá) 8 GHz

 ZVA24     帶 4 個(gè)內(nèi)部信號(hào)源，頻率高達(dá)24 GHz

 ZVA50     帶 4 個(gè)內(nèi)部信號(hào)源，頻率高達(dá) 50 GHz

 ZVA67     帶 4 個(gè)內(nèi)部信號(hào)源，頻率高達(dá)67 GHz

 ZVA80     帶 4 個(gè)內(nèi)部信號(hào)源，頻率高達(dá) 80 GHz

 ZVA110    帶 4 個(gè)內(nèi)部信號(hào)源，頻率高達(dá)110 GHz

通過(guò)電氣延時(shí)、任意阻抗和損耗定義匹配

采用等效電路圖定義匹配，其中，考慮了寄生電感和寄生電容效應(yīng)
除了手動(dòng)地定義校準(zhǔn)套件之外，也可以通過(guò)文件方便地安裝校準(zhǔn)套件 – 甚至可以采用其它提供商的 ASCII 碼文件進(jìn)行安裝。 可以切換至其它提供商所使用的測(cè)量單元。
自動(dòng)校準(zhǔn)――快速、無(wú)錯(cuò)誤、高精度
盡管 TOSM、TRM 和 TRL 等手動(dòng)校準(zhǔn)技術(shù)可用于多端口測(cè)量，但是比較耗時(shí)，出錯(cuò)率高，并且校準(zhǔn)裝置磨損嚴(yán)重。 羅德與施瓦茨提供同軸單端口和多端口校準(zhǔn)所需的自動(dòng)校準(zhǔn)單元，該單元在連接后可立即進(jìn)入工作狀態(tài)，不到30秒時(shí)間可完成201個(gè)測(cè)試點(diǎn)的四端口校準(zhǔn)。
4.通信
系統(tǒng)設(shè)計(jì)有各種后面板連接器，用于支持：
• 通過(guò)遠(yuǎn)程控制軟件控制儀表。
• 采用 R&S®NRP探頭進(jìn)行直流電壓和功率測(cè)量
• 同步功能（例如，參考頻率、外部觸發(fā)器、掃描和觸發(fā)狀態(tài)指示等，用以直接、快速地與外部設(shè)備進(jìn)行交互）。
• 掃描時(shí)間測(cè)量：USER CONTROL 端口的針腳 4 指示測(cè)量時(shí)間，與菜單“Trigger settings（觸發(fā)器設(shè)置）”中的設(shè)置相對(duì)應(yīng)（掃描、掃描段、測(cè)試點(diǎn)，或者部分測(cè)量）。 借助示波器，可以方便地監(jiān)控每一種情況下實(shí)際所需要的執(zhí)行時(shí)間。